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產(chǎn)品系列

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輝光放電光譜儀
輝光放電光譜儀（GDA）于1968年*出現(xiàn)，用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學(xué)分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與傳統(tǒng)的激發(fā)技術(shù)相比，輝光放電技術(shù)的突出優(yōu)點是能夠表層分析樣品的表層...
鎢燈絲掃描電鏡
FlexSEM1000是日立公司推出的一款機型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲掃描電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭，具有的低真空成像能量，并且采用的...
臺式電子掃描電鏡
日立TM4000臺式電子掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探...
全新臺式大氣壓顯微鏡
2016年，日立公司推出大氣壓下全新臺式大氣壓顯微鏡AeroSurf1500，其*的設(shè)計可在大氣壓下得到清晰的掃描電子圖像。
新一代超高分辨鎢燈絲掃描電鏡
SU3500新一代超高分辨鎢燈絲掃描電鏡所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學(xué)系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時，SE圖像可達7nm,5KV電壓時，BSE圖像可...
多功能分析型可變壓掃描電鏡
研究超大，超重，多功能分析型可變壓掃描電鏡可載樣品直徑達300mm；觀察區(qū)域直徑達203mm；在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析
高分辨場發(fā)射掃描電鏡
HITACHI SU-8010高分辨場發(fā)射掃描電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時，分辨率...
新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡高二次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性...

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